簡(jiǎn)要描述：性能強大的無(wú)源光器件測試平臺，適用于測試WDM器件和光子集成電路
產(chǎn)品型號： CTP10
所屬分類(lèi)：光無(wú)源器件
更新時(shí)間：2024-12-16
高效地測試全天候運行的無(wú)源光器件。以非常高的動(dòng)態(tài)范圍、速度與分辨率測量插損
（IL）、回損（RL）或偏振相關(guān)損耗（PDL）
迅速對IL、RL或PDL進(jìn)行波長(cháng)掃描測量
采用*電子技術(shù)，只需一次掃描便可以實(shí)現整個(gè)動(dòng)態(tài)范圍內的IL鑒定，是測試頻譜對比度高的器件的理想工具
配備強大、直觀(guān)的圖形用戶(hù)界面（GUI），便于配置測試和分析測量結果
支持全波段IL、RL和PDL測量，覆蓋從1240 nm到1680 nm的波長(cháng)
提供激光器共享功能，在多8個(gè)測試臺間共享一個(gè)或多個(gè)激光器
CTP10是一種模塊化測量平臺，可高效地測試全天候運行的無(wú)源器件。該平臺可直接控制一臺或多臺T100S-HP激光器，在幾秒內實(shí)現高分辨率頻譜鑒定。一臺CTP10可為IL、RL或PDL測量提供波長(cháng)掃描、數據收集與處理、以及曲線(xiàn)顯示與分析功能，從而成為一款非常誘人、易于使用的無(wú)源器件測試解決方案。它能夠以高達80 dB的動(dòng)態(tài)范圍、非常高的速度與分辨率，通過(guò)一次掃描便完成插損測量。該平臺可連接多達50個(gè)檢測器，成為測試DWDM網(wǎng)中所用大端口數器件以及光子集成電（PIC）
的理想儀表。它運行功能強大的數據處理電子技術(shù)，從而幾乎消除了由數據傳輸而導致的任何停機時(shí)間。它還配備一個(gè)大容量?jì)戎糜脖P(pán)，用于直接存儲數據和通過(guò)兼容SCPI的命令進(jìn)行全遠程控制。
