簡(jiǎn)要描述：CTP10 - 無(wú)源光器件測試平臺性能強大的無(wú)源光器件測試平臺，適用于測試WDM器件和光子集成電路
產(chǎn)品型號：
所屬分類(lèi)：光無(wú)源器件
更新時(shí)間：2024-12-16
CTP10 - 無(wú)源光器件測試平臺
性能強大的無(wú)源光器件測試平臺，適用于測試WDM器件和光子集成電路
主要優(yōu)點(diǎn)
掃頻測量插損（IL）、偏振相關(guān)損耗（PDL）或回損（RL）
業(yè)內*支持全波段PDL測量，覆蓋從1260 nm到1620 nm的波長(cháng)
以100 nm/s的速度進(jìn)行單次掃描，動(dòng)態(tài)范圍>70 dB，精度為±5 pm，分辨率為1 pm
配備強大的圖形用戶(hù)界面（GUI），內置*分析功能
通過(guò)SCPI命令實(shí)現全自動(dòng)化操作
采用可擴展的架構，適用于研發(fā)和制造環(huán)境
描述
CTP10是一種模塊化測量平臺，可高效地全天候測試無(wú)源器件。通過(guò)它，您能夠動(dòng)態(tài)范圍、速度和分辨率執行插損（IL）、偏振相關(guān)損耗（PDL）或回損（RL）測量。CTP10是測量高速WDM網(wǎng)絡(luò )中的新型大端口數光器件和和光子集成電路（PIC）的理想設備。它可以結合T100S-HP系列掃頻可調諧激光器，在幾秒鐘內完成IL-RL或IL-PDL測量。
下一代平臺和模塊
CTP10平臺可安裝多達10個(gè)熱插拔模塊，包括用于光譜鑒定的各種關(guān)鍵模塊（IL-RL OPM2或IL-PDL模塊）、波長(cháng)控制模塊（SCAN SYNC和FBC模塊）以及檢測模塊（OPMx模塊）。這些*集成的模塊可以熱插拔，從而大大減少設置時(shí)間，并提供一個(gè)非常靈活、不斷發(fā)展的測試解決方案。
CTP10內置操作系統，可處理大量的數據。它還提供一個(gè)可擴展的架構，由多8個(gè)測試站共享一個(gè)或多個(gè)可調諧激光器，并添加一個(gè)輔助主機，以測試100多個(gè)端口。
性能強勁
CTP10可進(jìn)行非常迅速的掃頻IL RL或PDL光譜測量。它提供不折不扣的高性能，并在全速測試時(shí)達到規格要求。OPMx免測距系列光檢測器能夠以100 nm/s的速率、1 pm的分辨率進(jìn)行掃描，測量的動(dòng)態(tài)范圍超過(guò)70 dB，從而大幅提高制造和研發(fā)能力。OPMx檢測器還可以測量高達10 dB/pm（10000 dB/nm）的清晰光譜特征，使CTP10成為未來(lái)測量波長(cháng)可選擇開(kāi)關(guān)（WSS）或環(huán)形諧振器等下一代器件的可靠工具。
GUI強大直觀(guān)
CTP10圍繞三個(gè)關(guān)鍵原則被開(kāi)發(fā)出來(lái)：集成、性能和自動(dòng)化。其內置軟件提供強大、直觀(guān)的GUI，從而簡(jiǎn)化測試配置和測量過(guò)程。CTP10可無(wú)縫地控制外接可調諧激光器，讓您專(zhuān)注于真正重要的事情：測量和分析數據。GUI集成了一整套工具以分析通帶（如WDM或WSS）和阻帶濾波器。
