簡(jiǎn)要描述：CT440/440-PDL - 無(wú)源元器件測試儀緊湊的測試儀，用于快速、準確地鑒定無(wú)源光元器件
產(chǎn)品型號：
所屬分類(lèi)：光無(wú)源器件
更新時(shí)間：2024-12-16
CT440/440-PDL - 無(wú)源元器件測試儀
緊湊的測試儀，用于快速、準確地鑒定無(wú)源光元器件
主要優(yōu)點(diǎn)
快速測量變化函數
波長(cháng)范圍為1240-1680 nm（SMF型號）
PM和PDL選件
波長(cháng)分辨率為1-250 pm
波長(cháng)精度為±5 pm
單次掃描的動(dòng)態(tài)范圍為65 dB
多可結合4個(gè)可調諧激光器（SMF型號）
配備四個(gè)內部檢測器，可通過(guò)同步進(jìn)行擴展
EXFO s緊湊型CT440讓您快速準確地測試無(wú)源光學(xué)組件(如MUX/DEMUX，濾波器，分配器)和模塊(ROADM, WSS)。
更重要的是，該裝置覆蓋了從1240到1680 nm的光譜范圍，允許在整個(gè)電信波段進(jìn)行測量。
通過(guò)PDL選項，CT440可以同時(shí)測量插入損耗和偏振相關(guān)損耗。
